https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/364347
標題: | High-resolution core-level photoemission study of CF ${$sub 4$}$-treated Gd ${$sub 2$}$ O ${$sub 3$}$(Ga ${$sub 2$}$ O ${$sub 3$}$) gate dielectric on Ge probed by synchrotron radiation | 作者: | Pi, T-W Huang, ML Kwo, J Lee, WC Chu, LK Lin, TD Chiang, TH Wang, YC Wu, YD Hong, M MINGHWEI HONG |
公開日期: | 2011 | 卷: | 98 | 期: | 6 | 來源出版物: | Applied Physics Letters | URI: | http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/364347 |
顯示於: | 應用物理研究所 |
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