https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/372784
標題: | Influence of surface roughness and interfacial layer on the infrared spectra of V-CVD grown 3C-SiC/Si (100) epilayers | 作者: | Talwar, D.N. Feng, Z.C. Liu, C.W. Tin, C.-C. CHEE-WEE LIU |
公開日期: | 2012 | 卷: | 27 | 期: | 11 | 來源出版物: | Semiconductor Science and Technology | URI: | http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-84868021839&partnerID=MN8TOARS http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/372784 |
DOI: | 10.1088/0268-1242/27/11/115019 |
顯示於: | 電機工程學系 |
在 IR 系統中的文件,除了特別指名其著作權條款之外,均受到著作權保護,並且保留所有的權利。