https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/374344
標題: | Thermal-aware Test Schedule and TAM Co-Optimization for Three Dimensional IC | 作者: | CHIEN-MO LI C. J. Shih C. Y. Hsu C. Y. Kou J. C. M. Li J. C. Rau K. Chakrabarty CHIEN-MO LI |
公開日期: | 一月-2012 | 卷: | 2012 | 來源出版物: | Active and Passive Electronic Components | URI: | http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/374344 | DOI: | 10.1155/2012/763572 |
顯示於: | 電子工程學研究所 |
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