https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/378068
標題: | Sensitivity enhancement of metal-oxide-semiconductor tunneling photodiode with trapped electrons in ultra-thin SiO2 layer | 作者: | Chen, T.-Y. Hwu, J.-G. JENN-GWO HWU |
公開日期: | 2013 | 卷: | 58 | 期: | 8 | 起(迄)頁: | 79-85 | 來源出版物: | ECS Transactions | URI: | http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-84904917657&partnerID=MN8TOARS http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/378068 |
DOI: | 10.1149/05808.0079ecst |
顯示於: | 電機工程學系 |
在 IR 系統中的文件,除了特別指名其著作權條款之外,均受到著作權保護,並且保留所有的權利。