https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/381716
標題: | Testing Leakage Faults of Power TSV in 3D IC | 作者: | Chi-Jih Shih Shih-An Hsieh Yi-Chang Lu James Chien-Mo Li Tzong-Lin Wu K. Chakrabarty CHIEN-MO LI |
公開日期: | 一月-2013 | 來源出版物: | IEEE Int’l workshop on 3D IC | URI: | http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/381716 |
顯示於: | 電子工程學研究所 |
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