https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/381717
標題: | Back-End-of-Line Defect Analysis for Rnv8T Nonvolatile SRAM | 作者: | CHIEN-MO LI BC Bai C-L Hsu MH Wu CA Chen YW Chen KL Luo LC Cheng CHIEN-MO LI |
公開日期: | 一月-2013 | 來源出版物: | IEEE Asian Test Symposium | URI: | http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/381717 | DOI: | 10.1109/ATS.2013.32 |
顯示於: | 電子工程學研究所 |
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