https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/394565
標題: | Floating-body-correlated subthreshold behavior of SOI NMOS device considering back-gate-bias effect | 作者: | S. K. Hu J. B. Kuo Y. J. Chen JAMES-B KUO |
公開日期: | 一月-2015 | 來源出版物: | Spanish Conference on Electron Devices | URI: | http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/394565 | DOI: | 10.1109/cde.2015.7087450 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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