https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/432719
標題: | Electromigration-induced microstructure evolution in tin studied by synchrotron x-ray microdiffraction | 作者: | Wu A.T. Tu K.N. Lloyd J.R. Tamura N. Valek B.C. C. ROBERT KAO |
公開日期: | 2004 | 卷: | 85 | 期: | 13 | 起(迄)頁: | 2490-2492 | 來源出版物: | Applied Physics Letters | URI: | https://www.scopus.com/inward/record.uri?eid=2-s2.0-7544234470&doi=10.1063%2f1.1795353&partnerID=40&md5=b1ad8bd64585b781cebbf177efb90fb8 https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/432719 |
ISSN: | 00036951 | DOI: | 10.1063/1.1795353 |
顯示於: | 材料科學與工程學系 |
在 IR 系統中的文件,除了特別指名其著作權條款之外,均受到著作權保護,並且保留所有的權利。