https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/443453
標題: | Measuring interface strains at the atomic resolution in depth using x-ray Bragg-surface diffraction | 作者: | Sun, W.C. Chang, H.C. Wu, B.K. Chen, Y.R. Chu, C.H. Chang, S.L. Hong, M. Tang, M.T. Stetsko, Y.P. MINGHWEI HONG |
公開日期: | 2006 | 卷: | 89 | 期: | 9 | 來源出版物: | Applied Physics Letters | URI: | https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/443453 | DOI: | 10.1063/1.2345023 |
顯示於: | 物理學系 |
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