https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/443461
標題: | Depth-profile study of the electronic structures at Ga<inf>2</inf>O <inf>3</inf>(Gd<inf>2</inf>O<inf>3</inf>) and Gd<inf>2</inf>O<inf>3</inf>-GaN interfaces by X-ray photoelectron spectroscopy | 作者: | Lay, T.S. Liao, Y.Y. Hung, W.H. Hong, M. Kwo, J. Mannaerts, J.P. MINGHWEI HONG |
公開日期: | 2005 | 卷: | 278 | 起(迄)頁: | 624-628 | 來源出版物: | Journal of Crystal Growth | URI: | https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/443461 | ISBN: | 10.1016/j.jcrysgro.2004.12.128 |
顯示於: | 物理學系 |
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