https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/445783
標題: | Electrical Characterization of the Insulating Property of Ta2o5 in Al-Ta2o5-Sio2-Si Capacitors by a Low-Frequency C/V Technique | 作者: | Hwu, Jg Lin, St SHIANG-TAI LIN |
公開日期: | 1990 | 卷: | 137 | 期: | 5 | 起(迄)頁: | 390-396 | 來源出版物: | Iee Proceedings-G Circuits Devices and Systems | URI: | https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/445783 | ISSN: | 0956-3768 | DOI: | 10.1049/ip-g-2.1990.0060 |
顯示於: | 化學工程學系 |
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