https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/497786
標題: | Automatic test pattern generation for delay defects using timed characteristic functions. | 作者: | Ho, Shin-Yann Lin, Shuo-Ren Yuan, Ko-Lung Kuo, Chien-Yen Liao, Kuan-Yu Jiang, Jie-Hong R. CHIEN-MO LI JIE-HONG JIANG |
公開日期: | 2013 | 起(迄)頁: | 91-98 | 來源出版物: | The IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design, ICCAD'13, San Jose, CA, USA, November 18-21, 2013 | URI: | https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/497786 | DOI: | 10.1109/ICCAD.2013.6691103 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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