https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/497790
標題: | Reducing test point overhead with don't-cares | 作者: | Chang, K.-H. Chang, C.-W. Jiang, J.-H.R. Liu, C.-N.J. JIE-HONG JIANG |
公開日期: | 2012 | 起(迄)頁: | 534-537 | 來源出版物: | Midwest Symposium on Circuits and Systems | URI: | https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/497790 | DOI: | 10.1109/MWSCAS.2012.6292075 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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