https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/559023
標題: | Transient Two-State Characteristics in MIS(p) Tunnel Diode with Edge-Thickened Oxide (ETO) Structure | 作者: | Yang, Y.-C. Lin, K.-W. Hwu, J.-G. JENN-GWO HWU |
公開日期: | 2020 | 卷: | 9 | 期: | 10 | 來源出版物: | ECS Journal of Solid State Science and Technology | URI: | https://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-85095765654&partnerID=40&md5=7f4cfc87098023f5a3944a95ae36ac88 https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/559023 |
DOI: | 10.1149/2162-8777/abc576 |
顯示於: | 電機工程學系 |
在 IR 系統中的文件,除了特別指名其著作權條款之外,均受到著作權保護,並且保留所有的權利。