https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/69304
標題: | Development of a Novel Micro-CMM for 3D Micro/nano Measurements | 作者: | 范光照 Fei, Y.T. Yu, X.F. Chen, Y.J. Wang, W.L. Chen, F. Liu, Y.S. Fan, K. C. |
公開日期: | 2005 | 起(迄)頁: | - | 來源出版物: | Measurement Science Technology, accepted | URI: | http://ntur.lib.ntu.edu.tw//handle/246246/156110 |
顯示於: | 機械工程學系 |
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