https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/69715
標題: | An Innovative Micro/nano Probe Measurement System for 3D Profile of Microstructure | 作者: | Chen, Y. J. Fan, K. C. Liu, Y. S. |
公開日期: | 五月-2006 | 卷: | 27 | 期: | 1 | 起(迄)頁: | 12-17 | 來源出版物: | China ACTA METROLOGICA SINICA(J) | URI: | http://ntur.lib.ntu.edu.tw//handle/246246/200113 |
顯示於: | 機械工程學系 |
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