https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/73305
DC 欄位 | 值 | 語言 |
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dc.contributor.author | 楊哲人 | zh |
dc.creator | 楊哲人 | - |
dc.date | 2009-01 | en |
dc.date.accessioned | 2011-02-16T01:29:10Z | - |
dc.date.accessioned | 2018-06-28T21:38:31Z | - |
dc.date.available | 2011-02-16T01:29:10Z | - |
dc.date.available | 2018-06-28T21:38:31Z | - |
dc.date.issued | 2009-01 | - |
dc.identifier.uri | http://ntur.lib.ntu.edu.tw//handle/246246/229110 | - |
dc.language | zh-TW | - |
dc.language.iso | en_US | - |
dc.publisher | 國家實驗研究院儀科中心 | en |
dc.title | 奈米檢測技術: 第六章“電子檢測技術” | zh |
dc.type | book | en |
item.languageiso639-1 | en_US | - |
item.fulltext | no fulltext | - |
item.grantfulltext | none | - |
item.openairetype | book | - |
item.openairecristype | http://purl.org/coar/resource_type/c_2f33 | - |
item.cerifentitytype | Publications | - |
crisitem.author.dept | Materials Science and Engineering | - |
crisitem.author.orcid | 0000-0001-7897-7039 | - |
crisitem.author.parentorg | College of Engineering | - |
顯示於: | 材料科學與工程學系 |
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