https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/73460
標題: | Determination of thickness and lattice distortion for the individual layer of strained AlGaN/GaN superlattice by high-angle annular dark-field scanning transmission electron microscopy | 作者: | Shiojiri, M. Ceh, M. Sturm, S. Chuo, C.C. Hsu, J. T. Yang, J. R. Sajio, H. |
公開日期: | 2005 | 起(迄)頁: | Physic-s | 來源出版物: | Applied | URI: | http://ntur.lib.ntu.edu.tw//handle/246246/93265 |
顯示於: | 材料科學與工程學系 |
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