黃天偉吳佩熹蔡政翰黃益群TIAN-WEI HUANG2018-09-102018-09-102006-08http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/325735射頻積體電路間連接結構之測試運作方法與具有測試結構之射頻積體電路,patent