李建模Li, Chien-Mo臺灣大學:電子工程學研究所林志和Lin, Chih-HeChih-HeLin2010-07-142018-07-102010-07-142018-07-102008U0001-1411200813155500http://ntur.lib.ntu.edu.tw//handle/246246/189079本篇論文提出了一個薄膜電晶體液晶顯示器源極驅動器晶片的可測試性設計,此可測試性設計可以量測輸出頻道的上升下降時間以及電壓偏差。所提出的可測試性設計在晶片上輸出頻道同時做電壓的比較,如此一來可大量減少測試機台所需要的輸入輸出針腳。根據模擬的結果可知,電壓偏差測試的準確度為2mV,上升下降時間測試的準確度為100ns。所提出的技術節省了數百個輸入輸出針腳,以及降低了百分之四十的測試時間。雖然增加了百分之十的面積成本,但可測試性設計建構在切割線上,並不會對原先的設計有所影響。源極驅動器晶片以及可測試性設計均以0.18μm的製程技術設計並且完成。This thesis presents a DFT technique to measure the rise/fall time and the offset of TFT-LCD source driver IC. The proposed DFT performs on-chip voltage comparison in parallel so the required number of tester channels <pins> is greatly reduced. According to simulation results, the accuracy of offset testing is 2mV and the rise/fall tine testing is 100ns. The proposed technique saves hundreds of I/O pins and reduces the total test time by 40%. Although the area penalty is 10%, the DFT circuitry is implemented on the scribe line so it is non-intrusive to the original design. The DFT has been implemented on an industrial design in 0.18μm technology.摘要 ibstract ii錄 iii目錄 v目錄 ix一章 序論 1.1 論文背景與動機 1.2 技術與論文貢獻 3.3 論文組織 6二章 論文相關背景與研究 7.1 薄膜電晶體液晶顯示器源極驅動器(TFT-LCD Source Driver)基本介紹 7.1.1 源極驅動器基本原理及運作 7.1.2 源極驅動器規格 12.2 上升以及下降時間量測相關研究 13.3 比較器電路相關研究 19.3.1常見的偏差消除機制 19nput Offset Storage(IOS) 19utput Offset Storage(OOS) 20.3.2 其他比較器的偏差消除方法 22.3.3 其他比較器電路 23三章 源極驅動器可測試性設計架構 26.1 DfT的整體架構 26.2 DfT整體架構分析 31.2.1 類比多工器(Analog Multiplexer) 31.2.2 DfT Cell電路分析 34入取樣電路(Input Sampling Network) 34較器(Comparator) 37描正反器(Scan Flip-Flop ) 46.3 上升時間和下降時間的測試方法以及模擬結果 47.4 準確度估計以及模擬 53.4.1 比較器準確度模擬及分析 53.4.2 上升時間以及下降時間準確度估算以及模擬結果 55四章 實作結果以及ATE測試流程 56.1 DfT在源極驅動器上的佈局 56.2 佈局後DfT模擬結果 59.2.1 IR效應對VDD以及VSS所造成的影響以及模擬結果 59.2.2 佈局後DfT模擬結果 62.3 DfT的設計規格 67.4 ATE測試流程(ATE Testing Flow) 69.4.1 校正程序 69.4.2 測試頻道偏差測試 72.4.3 上升以及下降時間測試 73五章 討論與未來工作 77.1 縮減DfT的面積 77.2 減輕IR效應的影響 78.3 增加上升以及下降時間的準確度 79六章 結論 80考文獻 8118510399 bytesapplication/pdfen-US可測試性設計源極驅動器晶片上升時間下降時間DfTSource driverrise timefall time液晶顯示器源極驅動器晶片上升時間以及下降時間測試的可測試性設計A DfT Technique for Rise Time and Fall Time Testing of LCD Source Driver ICthesishttp://ntur.lib.ntu.edu.tw/bitstream/246246/189079/1/ntu-97-R95943096-1.pdf