國立臺灣大學機械工程學系暨研究所吳文方2006-07-252018-06-282006-07-252018-06-282004http://ntur.lib.ntu.edu.tw//handle/246246/15904本研究沿用一般構裝設計者較熟悉之構 裝力學及疲勞分析方法，針對電子構裝力學 實測結果的離散性進行一些探討。在本年度 的計畫中，我們首先比較數種覆晶構裝結構 之優劣，進而深入探討其中兩種覆晶構裝於 熱負載下之結構參數變異對熱應力與疲勞壽 命的影響，並比較疲勞壽命對於幾何參數之 敏感度。研究結果發現，於各項參數中，以 錫鉛凸塊有關之參數變異對熱應力與疲勞壽 命的影響較為顯著，而其他參數對於不同覆 晶構裝結構也有某些程度的影響。以上結果 將可作為本計畫後續以隨機程序、統計方法 等探討電子構裝可靠度分析的參考基礎。application/pdf332619 bytesapplication/pdfzh-TW國立臺灣大學機械工程學系暨研究所覆晶構裝參數敏感度分析隨機 程序統計方法reporthttp://ntur.lib.ntu.edu.tw/bitstream/246246/15904/1/922212E002073.pdf