國立臺灣大學電信工程學研究所黃天偉2006-07-262018-07-052006-07-262018-07-052004-10-31http://ntur.lib.ntu.edu.tw//handle/246246/20304自我測試電路在數位電路中已十分常 見，然而在射頻電路的領域卻是還未成熟 的技術。為了研究自我測試電路應用在射 頻電路的可行性，我們在這三年計畫之第 一年的研究可分為三方面：1.射頻放大器 自我測試方法的分析。2.關於未來系統測 試中需要的系統封裝關鍵元件之研製，並 有多篇論文發表於國際會議之中3.發展射 頻週邊掃瞄電路作為射頻自我測試的功能 控制，並完成週邊掃瞄電路與射頻電路的 整合工作，並提出專利申請。While it is so common in digital circuits, built-in-self-test (BIST) is not mature in RF circuits’ domain. In order to find the possibility to implement BIST in RF circuits, our first year research among the three project includes：1. The analysis of RF amplifier BIST methods. 2. The system-in-package components are developed for the future system self test, which have been published in several international conference papers. 3. The RF boundary scan cell (BSC) to control RF-BIST function is developed and integrated with RF circuits, which has been submitted to U.S. patent.application/pdf411473 bytesapplication/pdfzh-TW國立臺灣大學電信工程學研究所射頻內建式自我測試射頻積體電路射頻系統晶片系統晶片測試RF Built-in Self-testRF ICRF SOCSOC Test具有內建自我測試功能之5GHz 超低功率無線通訊系統之研製-- 子計畫三：5GHz 無線系統晶片的射頻自我測試技術RF Built-in-self-test techniques for 5GHz wireless SOC (I)reporthttp://ntur.lib.ntu.edu.tw/bitstream/246246/20304/1/922220E002005.pdf