國立臺灣大學電子工程學研究所李建模2006-07-262018-07-102006-07-262018-07-102005-10-31http://ntur.lib.ntu.edu.tw//handle/246246/20049本研究計畫展示一個定位掃描鍊上維持與設定時間錯誤的診斷技術。這個 技術利用溫測掃描輸入樣式，只有一個上升或下降的轉換，達成了決定性 的診斷結果。有了溫測掃描輸入樣式，診斷樣式也可經由些微修改現有的 單一固接錯誤測試樣式來產生。This report presents a diagnosis technique to locate hold-time (HT) faults and setup-time (ST) faults in scan chains. This technique achieves deterministic diagnosis results by applying thermometer scan input (TSI) patterns, which have only one rising or one falling transition. With TSI patterns, the diagnosis patterns can be easily generated by existing single stuck-at fault test pattern generators with few modifications.application/pdf126337 bytesapplication/pdfzh-TW國立臺灣大學電子工程學研究所錯誤診斷自動測試樣式產生機掃描鍊reporthttp://ntur.lib.ntu.edu.tw/bitstream/246246/20049/1/932215E002030.pdf