公開日期 | 標題 | 作者 | 來源出版物 | scopus | WOS | 全文 |
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2012 | Carrier escape mechanism dependence on barrier thickness and temperature in InGaN quantum well solar cells | Lang, J. R.; Young, N. G.; Farrell, R. M.; Wu, Y. -R.; Speck, J. S.; YUH-RENN WU | Applied Physics Letters | 75 | 65 |