公開日期 | 標題 | 作者 | 來源出版物 | scopus | WOS | 全文 |
---|---|---|---|---|---|---|
2012 | 3D IC test scheduling using simulated annealing | CHIEN-MO LI ; CY Hsu; CY Kuo; JCM Li; K. Chakrbarty; CHIEN-MO LI | IEEE VLSI-DAT | |||
2011 | Thermal-aware Test scheduling for 3D ICs | CHIEN-MO LI ; CY Hsu; JCM Li; K. Chakrbarty; CHIEN-MO LI | IEEE Int’l 3D IC Test Workshop |