https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/149697
DC 欄位 | 值 | 語言 |
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dc.contributor.author | Chang, J. | zh-TW |
dc.contributor.author | 林呈祥 | zh-TW |
dc.contributor.author | Lin, Chen-Shang | en |
dc.creator | Chang, J.;林呈祥 | zh-TW |
dc.creator | Chang, J.;Lin, Chen-Shang | en |
dc.date | 1992-11 | en |
dc.date.accessioned | 2009-02-04T21:07:06Z | - |
dc.date.accessioned | 2018-07-06T11:02:16Z | - |
dc.date.available | 2009-02-04T21:07:06Z | - |
dc.date.available | 2018-07-06T11:02:16Z | - |
dc.date.issued | 1992-11 | - |
dc.identifier.uri | http://ntur.lib.ntu.edu.tw//handle/246246/121611 | - |
dc.language | en | en |
dc.language.iso | en_US | - |
dc.publisher | Japan | en |
dc.relation | Proceedings of Asian Test Symposium, p.20-25 | en |
dc.relation.ispartof | Proceedings of Asian Test Symposium | - |
dc.title | Test Set Compaction for Combinational Circuits | en |
dc.type | conference paper | en |
dc.relation.pages | 20-25 | - |
item.fulltext | no fulltext | - |
item.cerifentitytype | Publications | - |
item.openairecristype | http://purl.org/coar/resource_type/c_5794 | - |
item.grantfulltext | none | - |
item.openairetype | conference paper | - |
item.languageiso639-1 | en_US | - |
顯示於: | 電機工程學系 |
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