https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/155368
標題: | Diagnosis of Resistive-Open and Stuck-Open Defects in Digital CMOS ICs | 作者: | Li, James Chien-Mo McCluskey, Edward J. |
公開日期: | 2005 | 卷: | 24 | 期: | 11 | 起(迄)頁: | 1748-1759 | 來源出版物: | IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS | URI: | http://ntur.lib.ntu.edu.tw//handle/246246/144072 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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