https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/308680
標題: | Fundamental Study and Oxide Reliability of the MBE-Grown Ga 2- x Gd x O 3 Dielectric Oxide for Compound Semiconductor MOSFETs | 作者: | Kwo, J Hong, M Mannaerts, JP Lee, YJ Wu, YD Lee, WG Milkap, S Yang, B Gustaffson, T MINGHWEI HONG |
公開日期: | 2004 | 卷: | 811 | 起(迄)頁: | E1-12 | 來源出版物: | MRS Proceedings | URI: | http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/308680 |
顯示於: | 應用物理研究所 |
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