https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/315732
標題: | Depth-profile study of the electronic structures at Ga 2 O 3 (Gd 2 O 3) and Gd 2 O 3-GaN interfaces by X-ray photoelectron spectroscopy | 作者: | Lay, TS Liao, YY Hung, Wei-Hsiu MINGHWEI HONG Kwo, J Mannaerts, JP |
公開日期: | 2005 | 卷: | 278 | 期: | 1 | 起(迄)頁: | 624-628 | 來源出版物: | Journal of Crystal Growth | URI: | http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/315732 |
顯示於: | 應用物理研究所 |
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