https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/346823
標題: | Investigation of defects in amorphous silicon films using positron annihilation | 作者: | Chen, Y.-F. Wang, C.-C. Tseng, P.-K. Lue, J.-T. YANG-FANG CHEN |
公開日期: | 1989 | 卷: | 134 | 期: | 8-9 | 起(迄)頁: | 493-496 | 來源出版物: | Physics Letters A | URI: | http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-45249130001&partnerID=MN8TOARS http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/346823 |
DOI: | 10.1016/0375-9601(89)90692-0 |
顯示於: | 物理學系 |
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