https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/352476
標題: | An On-Chip Integrator Leakage Characterization Technique and Its Applications to Switched Capacitor Circuits Testing | 作者: | C.-Y. Yang X.-L. Huang J.-L. Huang JIUN-LANG HUANG |
公開日期: | 十一月-2009 | 起(迄)頁: | 367-372 | 來源出版物: | Asian Test Symposium | URI: | http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/352476 | DOI: | 10.1109/ATS.2009.55 |
顯示於: | 電子工程學研究所 |
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