https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/366785
標題: | Test-Clock Domain Optimization for Peak Power-Supply Noise Reduction During Scan | 作者: | CHIEN-MO LI R.Y. Wen Y.C. Huang M.H. Tsai K.Y. Liao J. C.-M. Li M.-T. Chang M.-H. Tsai C.-M. Tseng H.-C. Li CHIEN-MO LI |
公開日期: | 一月-2011 | 來源出版物: | International Test Conference | URI: | http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/366785 | DOI: | 10.1109/TEST.2011.6139163 |
顯示於: | 電子工程學研究所 |
在 IR 系統中的文件,除了特別指名其著作權條款之外,均受到著作權保護,並且保留所有的權利。