https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/388863
標題: | Transient IR-drop Analysis for At-speed Testing Using Representative Random Walk | 作者: | CHIEN-MO LI M. H. Tsai W. S. Ding H. Y. Hsieh CHIEN-MO LI |
公開日期: | 一月-2014 | 卷: | 22 | 期: | 9 | 起(迄)頁: | 1980-1989 | 來源出版物: | IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems | URI: | http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/388863 | DOI: | 10.1109/TVLSI.2013.2280616 |
顯示於: | 電子工程學研究所 |
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