https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/399970
標題: | Probing defect states in polycrystalline GaN grown on Si(111) by sub-bandgap laser-excited scanning tunneling spectroscopy | 作者: | YA-PING CHIU | 公開日期: | 2017 | 卷: | 121 | 期: | 1 | 起(迄)頁: | 015701 - | 來源出版物: | Journal of Applied Physics | URI: | http://juser.fz-juelich.de/record/826802 http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/399970 |
DOI: | 10.1063/1.4972563 |
顯示於: | 應用物理研究所 |
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