https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/429671
標題: | CPP-ATPG: A Circular Pipeline Processing Based Deterministic Parallel Test Pattern Generator | 作者: | K.-W. Yeh J.-L. Huang L.-T. Wang JIUN-LANG HUANG |
公開日期: | 2016 | 卷: | 32 | 期: | 5 | 起(迄)頁: | 12ค๋15ค้ | 來源出版物: | Journal of Electronic Testing: Theory and Applications | URI: | https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/429671 | ISSN: | 9238174 | DOI: | 10.1007/s10836-016-5615-z |
顯示於: | 電子工程學研究所 |
在 IR 系統中的文件,除了特別指名其著作權條款之外,均受到著作權保護,並且保留所有的權利。