https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/491657
標題: | High-resolution scanning electron microscopy observation of GaN/AlGaN strained-layer superstructures in GaN-based violet laser diodes | 作者: | Saijo, H. Nakagawa, M. Yamada, M. Hsu, J.-T. TU, R.-C. Yang, J.-R. Shiojiri, M. JER-REN YANG |
公開日期: | 2004 | 卷: | 43 | 期: | 3 | 起(迄)頁: | 968-969 | 來源出版物: | Japanese Journal of Applied Physics, Part 1: Regular Papers and Short Notes and Review Papers | URI: | https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/491657 | DOI: | 10.1143/JJAP.43.968 |
顯示於: | 材料科學與工程學系 |
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