https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/500366
標題: | Influence of the thickness variation of the SiO<inf>x</inf> layer on the Si quantum dots based MOSLED | 作者: | Lai, B.-H. Cheng, C.-H. GONG-RU LIN |
公開日期: | 2011 | 卷: | 7987 | 來源出版物: | Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering | URI: | https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/500366 | DOI: | 10.1117/12.889947 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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