https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/501235
標題: | Characterization of 1/f noise vs. number of gate stripes in MOS transistors. | 作者: | Chen, Hsin-Shu Ito, A. HSIN-SHU CHEN |
公開日期: | 1999 | 起(迄)頁: | 310-313 | 來源出版物: | Proceedings of the 1999 International Symposium on Circuits and Systems, ISCAS 1999, Orlando, Florida, USA, May 30 - June 2, 1999 | URI: | https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/501235 | DOI: | 10.1109/ISCAS.1999.780720 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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