https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/505983
標題: | Test Pattern Modification for Average IR-Drop Reduction | 作者: | CHIEN-MO LI Ding, W.-S. Hsieh, H.-Y. Han, C.-Y. Li, J.C.-M. Wen, X. CHIEN-MO LI |
公開日期: | 2016 | 卷: | 24 | 期: | 1 | 起(迄)頁: | 38-49 | 來源出版物: | IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems | URI: | https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/505983 | DOI: | 10.1109/TVLSI.2015.2391291 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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