公開日期 | 標題 | 作者 | 來源出版物 | scopus | WOS | 全文 |
---|---|---|---|---|---|---|
2010 | Ruthenium oxide metal nanocrystal capacitors with high-kappa dielectric tunneling barriers for nanoscale nonvolatile memory device applications | Das, Atanu; Maikap, S.; Lin, C.-H.; Tzeng, P.-J.; Tien, T.-C.; Wang, T.-Y.; Chang, L.-B.; Yang, J.-R.; JER-REN YANG | Microelectronic Engineering | 3 | 4 | |
2011 | Temperature-Dependent Physical and Memory Characteristics of Atomic-Layer-Deposited RuOx Metal Nanocrystal Capacitors | Maikap, S.; Banerjee, W.; Tien, T.C.; Wang, T.Y.; JER-REN YANG | Journal of Nanomaterials | 7 | 6 |