公開日期 | 標題 | 作者 | 來源出版物 | scopus | WOS | 全文 |
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2008 | Nanometer thick single crystal Y2 O3 films epitaxially grown on Si (111) with structures approaching perfection | Nieh, C.W.; Lee, Y.J.; Lee, W.C.; Yang, Z.K.; Kortan, A.R.; Hong, M.; Kwo, J.; Hsu, C.-H.; MINGHWEI HONG | Applied Physics Letters | 15 | 17 |