公開日期 | 標題 | 作者 | 來源出版物 | scopus | WOS | 全文 |
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2009 | The correlation between trap states and mechanical reliability of amorphous Si:H TFTS for flexible electronics | Lee, M.H.; Chang, S.T.; Weng, S.-C.; Liu, W.-H.; Chen, K.-J.; Ho, K.-Y.; Liao, M.H.; Huang, J.-J.; Hu, G.-R.; MING-HAN LIAO | IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings |