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Yang, Yi-Lin
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公開日期
標題
作者
來源出版物
scopus
WOS
全文
2004
Quality Improvement of Ultrathin Gate Oxide by Using Thermal Growth Followed by SF ANO Technique
Yang, Yi-Lin; Hwu, Jenn-Gwo
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
2009
超薄氧化層純水補償技術及氫對ONO介電層可靠度之影響
楊宜霖; Yang, Yi-Lin