Erratum: Defect-free band-edge photoluminescence and band gap measurement of pseudomorphic Si1-x-yGexCy alloy layers on Si (100)" (Appl. Phys. Lett. (1995) 67 (3915))

Journal
Applied Physics Letters
Date Issued
1995
Author(s)
Amour, A.St.
Liu, C.W.
Sturm, J.C.
Lacroix, Y.
Thewalt, M.L.W.
URI
Type
journal article

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