https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/173705
標題: | A DfT Technique for Diagnosing Integrator Leakage of Single-Bit First-Order Delta-Sigma Modulator Using DC Input | 作者: | Huang, X.-L. Yang, C.-Y. Huang, J.-L. |
公開日期: | 2009 | 卷: | 16 | 期: | 5 | 起(迄)頁: | 411-420 | 來源出版物: | International Journal of Electrical Engineering | URI: | http://ntur.lib.ntu.edu.tw//handle/246246/236465 |
顯示於: | 電子工程學研究所 |
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