https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/318010
標題: | Random jitter testing using low tap-count delay lines | 作者: | JIUN-LANG HUANG | 公開日期: | 十二月-2005 | 起(迄)頁: | 100-105 | 來源出版物: | Asian Test Symposium | URI: | http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/318010 | DOI: | 10.1109/ATS.2005.93 |
顯示於: | 電子工程學研究所 |
在 IR 系統中的文件,除了特別指名其著作權條款之外,均受到著作權保護,並且保留所有的權利。