https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/32315
標題: | Advanced Imaging and Analysis Techniques with a Scanning Ion Microprobe | 作者: | 王玉麟 Chabala, J. M. Levi-Setti, R. Wang, Yuh-Lin |
公開日期: | 1989 | 出版社: | San Francisco: San Francisco Press | 起(迄)頁: | 586-590 | 來源出版物: | Microbeam Analysis | URI: | http://ntur.lib.ntu.edu.tw//handle/246246/110792 |
顯示於: | 物理學系 |
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