https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/329944
標題: | Modeling and characterization of hydrogen-induced charge loss in nitride-trapping memory | 作者: | JENN-GWO HWU | 公開日期: | 2007 | 卷: | 54 | 期: | 6 | 起(迄)頁: | 1360-1365 | 來源出版物: | IEEE Transactions on Electron Devices | URI: | http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-34249932782&partnerID=MN8TOARS http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/329944 |
DOI: | 10.1109/TED.2007.895242 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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