https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/332273
標題: | Multilevel full-chip routing with testability and yield enhancement | 作者: | Li, K.S.-M. Chang, Y.-W. Lee, C.-L. Su, C. Chen, J.E. YAO-WEN CHANG |
公開日期: | 2007 | 卷: | 26 | 期: | 9 | 起(迄)頁: | 1625-1636 | 來源出版物: | IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems | URI: | http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-34548268617&partnerID=MN8TOARS http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/332273 |
DOI: | 10.1109/TCAD.2007.895587 |
顯示於: | 電子工程學研究所 |
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