https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/333624
標題: | Influence of STI-induced mechnical stress in kink effect of 65nm PD SOI CMOS devices | 作者: | I. Lin V. Su J. Kuo R. Lee G. Lin D. Chen C. Yeh C. Tsai M. Ma JAMES-B KUO |
公開日期: | 十二月-2007 | 起(迄)頁: | 107-108 | 來源出版物: | Electron Devices and Solid State State Circuits (EDSSC) Conf | URI: | http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/333624 | DOI: | 10.1109/edssc.2007.4450073 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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